國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,合肥埃科光電科技股份有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種光電檢測設(shè)備精度評(píng)估方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)”的專利,公開號(hào)CN121384221A,申請(qǐng)日期為2025年10月。專利摘要顯示,本發(fā)明公開了一種光電檢測設(shè)備精度評(píng)估方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì),該方法,包括:逐像素點(diǎn)亮標(biāo)定屏幕各像素點(diǎn),以逐像素獲取標(biāo)準(zhǔn)光電檢測設(shè)備對(duì)準(zhǔn)基準(zhǔn)區(qū)域的當(dāng)前測量值;計(jì)算當(dāng)前測量值與前一測量值的差分結(jié)果用于定位邊界像素點(diǎn),以獲取標(biāo)準(zhǔn)光電檢測設(shè)備在邊界像素點(diǎn)內(nèi)部的有效采樣區(qū)域與基準(zhǔn)區(qū)域的位置關(guān)系;獲取待測光電檢測設(shè)備采集的參考屏幕圖像,以通過基準(zhǔn)區(qū)域在所述參考屏幕圖像上定位與有效采樣區(qū)域?qū)?yīng)的測量區(qū)域;本發(fā)明中,通過極易操作的方式實(shí)現(xiàn)亞毫米級(jí)的對(duì)齊精度,同時(shí)配合算法幫助在成像色度計(jì)獲得的圖像中定位參考儀器的測量位置