國家知識產權局信息顯示,蘇州聯訊儀器股份有限公司申請一項名為“一種芯片測試系統的控制方法及芯片測試系統”的專利,公開號CN121454284A,申請日期為2025年11月。專利摘要顯示,本發明提供了一種芯片測試系統的控制方法及芯片測試系統,涉及芯片測試技術領域。本發明先控制第一電性能檢測裝置對第一測試載臺上的第一待測芯片進行電性能測試,然后在第一待測芯片完成電性能測試后,控制第一電性能檢測裝置對第二測試載臺上的第二待測芯片進行電性能測試,并控制第一光性能檢測裝置對第一待測芯片進行光性能測試。最后在第一待測芯片完成光性能測試且第二待測芯片完成電性能測試后,控制第一光性能檢測裝置對第二待測芯片進行光性能檢測。在不增加額外設備的前提下,可以提高性能檢測裝置的利用率,使得設備的產能大幅提升。另外,待