國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示,蘇州聯(lián)訊儀器股份有限公司申請一項名為“一種芯片AOI檢測設(shè)備和芯片測試設(shè)備”的專利,公開號CN121207970A,申請日期為2025年10月。專利摘要顯示,本申請涉及芯片檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉一種芯片AOI檢測設(shè)備和芯片測試設(shè)備。該設(shè)備包括:底面檢相機(jī)組件,用于獲取其上方沿第一方向移動的吸附組件末端吸附的至少一個待測芯片的背面圖像;第一側(cè)面檢相機(jī)組件和第二側(cè)面檢相機(jī)組件,分別設(shè)置在第一方向的兩側(cè),第一側(cè)面檢相機(jī)和第二側(cè)面檢相機(jī)的取像光軸水平且平行布置,并且第一側(cè)面檢相機(jī)和第二側(cè)面檢相機(jī)的取像視野相對布置,用于對待測芯片的第一側(cè)面、第二側(cè)面進(jìn)行檢測;控制主機(jī),與所述底面檢相機(jī)組件、所述第一側(cè)面檢相機(jī)組件以及所述第二側(cè)面檢相機(jī)組件通信連接。該設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)對待測芯片多個面的